金属导电性

　　金属材料由于晶格间具有可自由移动的电子，均具有良好的导电性能，按照导电性能排序，一些常用材料的参数如下表：

材料名称	符号	电阻率(μΩ·cm)	电阻温度系数(1/°C)	熔点(°C)	沸点(°C)	密度(g/cm3)
银	Ag	1.59	0.0038	961	2210	10.49
铜	Cu	1.67	0.0039	1083	2959	8.96
金	Au	2.35	0.0032	1063	2970	19.32
铝	Al	2.65	0.0043	660	2450	2.70
锌	Zn	5.92	0.0042	420	906	7.13
铁	Fe	9.71	0.0065	1537	3000	7.87
铂	Pt	10.6	0.0039	1769	4530	21.45
锡	Sn	11.0	0.0047	232	2270	7.30
钛	Ti	42.0	0.0041	1668	3260	4.51
锰铜	Cu85Mn12Ni2	48.2	0.000002	-	-	-
康铜	Cu55Ni45	49.0	0.00003	-	-	-
镍铬	Fe45Ni35Cr20	100	0.0004	-	-	-
金钯铁铝	AuPdFeAl	216	-0.000014	-	-	-
碳(高纯)	C	3500	-0.0005	3727	4830	2.25
锗(高纯)	Ge	0.6 Ω·m	-0.048	937	2830	5.323
硅(高纯)	Si	2300 Ω·m	-0.075	1410	4830	2.25

* 主要数据来源《二元合金状态图集》《贵金属》等，环境温度为20℃

电阻率计算

测试仪简介

　　JF11D金属电阻率(微电阻)测试仪为用于金属材料的电阻可视化检测设计，由于银、铜、金、铝等具有较好导电性，这些金属材料在日常使用体积范围时其电阻值就已经很低，通过下图可对其有简单概念，当金属材料为长度10cm丝材时，1mΩ材料电阻值对应的材料截面积(图中数值为直径，单位mm)示意图：

　　当材料导电截面积更大时电阻值更低，测试仪主要针对这类低电阻测试进行优化，对纯金属及其合金材料的导电性(电阻/电阻率/电导率)、进行高精度、连续监测，并在此基础上对电阻温度系数(电阻-温度关系)、 电阻应变灵敏系数(电阻-力关系)、接触压力-接触电阻关系等衍生出不同用途的测量系统。测试系统由实验架台(或夹具)、测试机箱、计算机、测控软件等组成。

测试系统组成

　　测试仪测量范围能到MΩ，也可用于部分半导体材料的测量。测量对象包括纯金属或合金的丝材、带材、管材、片材等具有规则截面积的导体或半导体，样品也包括厚膜及薄膜导电膜，及可使用四端点测试夹具的半导体块体材料。

　　由于电阻率是材料的基本属性，与材料纯度有紧密关系，除用于导电性测量外，也可以做为材料纯度的物理判定手段之一。

配用夹具

• 丝带材检测夹具：用于直径1mm以下的细丝及窄薄带材测量，夹头镀金，检测长度可调，样品快速装夹
• 细丝检测夹具：用于直径0.1mm以下的超细丝测量，夹头镀金，检测长度固定，样品快速装夹
• 四探针检测头：单边线四探针检测探头，间距1mm，用于薄膜、厚膜及半导体电阻率测量
• 带材检测夹具：用于厚1mm、宽20mm以下的带材测量，检测长度固定，夹头镀金，检测长度可调，快速装夹

配用软件

　　软件几个主要界面，双击可显示原图。