JF07D气敏传感器稳定性老化测定仪

配用软件最新版本 1.6, Build in 12.2018

系统简介

  JF07D气敏传感器稳定性测定/老化仪是为方便气敏传感器进行长时间工作和参数监控使用的检测装置,完成如器件老化、 稳定性测定、中毒实验、带载实验(模拟实际工作气体环境)等需多天连续工作的实验。整机可与JF02F气敏传感器测试系统配 合使用,减少因稳定性、老化等实验占用过多时间,提高使用效率。

  JF07D气敏传感器稳定性测定/老化仪除在面板上可方便的调节并读取测试值外,还可以通过计算机软件读取各传感器的 数据,替代人工抄录,减少工作量。配用软件基于Windows系统设计,具备数据采集及一定的数据处理功能。


仪器主机

配用软件



主要特点

传感器采用单只并联老化方式,较之前系统采用的串并联老化效果更好;
加热电压可调节,可根据需要加速或减慢老化效果;
使用过程中可通背景气体或检测气体,老化和稳定检测效果更好;
可通过计算机记录老化/稳定性检测过程中的数据,并在结束后进行查阅分析;
气箱内温度过高或燃气浓度过高时系统会报警。

主要技术指标

  采购JF07D时传感器类型需预先确定。

传感器类型 金属氧化物半导体气敏传感器 催化氧化气敏传感器
器件数量: 80只
测试量程: 10Ω~10MΩ -200~+200mv
信号显示: 电压(面板)/电阻(软件) 电压(面板和软件)
气室温度测试: 室温~100℃
工作电压: 0.8~5.5V
温度报警限: 60℃
可燃气体报警限: 2.5% CH4(等效)
软件采样速率: 最快2.5秒/通道
软件采样总时间: >30天(最长时间受计算机内存限制)
主机通讯方式: RS232 / Ethernet

发展历程

  气敏传感器老化及稳定性测试是气敏传感器生产过程中的重要工艺步骤,通过老化使得传感器进入稳定的工作状态,将一些有故障元件通过老化过程尽早的暴露出来。 昆明贵金属研究所在上世纪80年代初进行金属氧化物半导体器件开发时就意识到了此问题,并随着进入器件生产将此部分功能设备化,并在使用过程中总结经验,逐步完善, 先后有JF07A-D四代仪器投入使用。


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